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黑龙江铜电化学沉积的动态硅通孔填充⼯艺晶圆,动态硅通孔填充⼯艺

更新时间:2024-05-11 09:54:38 编号:13379nsto9d8c1
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  • 硅通孔填充⼯艺,铜电化学沉积,动态硅通孔填充⼯艺,TSV电镀

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徐发杰

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硅通孔填充⼯艺,黑龙江硅通孔填充⼯艺,芯片金属封装,TSV硅通孔填充⼯艺
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黑龙江铜电化学沉积的动态硅通孔填充⼯艺晶圆,动态硅通孔填充⼯艺

目前对TSV填充的研究主要集中在条件优化和填充机理上。
为了实现⽆缺陷的 TSV 填充,电镀溶液中的特定添加剂,即
氯离⼦、抑制剂和促进剂进⾏了深⼊研究 。与特定添加剂和
通孔结构相对应的佳电沉积参数已被⼴泛研究。. 在这些参
数中,电流密度对填充形态的影响尤为显着。尽管特定的添
加剂可以有效地实现⽆缺陷填充,但所需的步骤很复杂,沉
积速率低,相关成本⾼。为了克服添加剂辅助填充⽅法的缺
陷,⼴泛研究了脉冲电流、脉冲反向电流、周期性脉冲反向
电流和多步电流等电镀电流波形. 同时,已经引用了⼏种机制
来解释⽆缺陷填充过程,例如传统的流平模型、对流相关吸
附模型、时间相关传输-吸附模型和曲率增强加速器覆盖模
型。动态 TSV 填充对于 TSV 填充研究的各个⽅面都很重要。
它是优化条件的基础,反映了填充模型的机制。然⽽,现有
的研究只关注在特定时刻获得的填充结果。很少系统地研究
连续和全面的动态 TSV 填充过程。在这项研究中,我们通过
在不同电流密度下的分阶段电沉积实验证明了 TSV 动态填充
过程。获得了实现⽆缺陷填充的佳电流密度。讨论了电流
密度对填充模型的影响。此外,镀层的形态演变表明,局部
沉积速率受镀层⼏何特征的影响。

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TSV 填充
TSV 填充电镀铜有三种⽅法:
共形电镀,自下⽽上的密封凸点电镀, 和超共形电镀。电镀⽅法是以各种三维
集成应用为基础的。总的来说, TSV 的结构是深度在 10 到 200μm 之前的典型
的圆柱形孔。TSV 的深度 取决于芯片或晶圆键合时的所需厚度,⽽ TSV 纵横
比的⼤小则由介电 膜、阻挡层和种⼦层和填充过程决定的。

STYCAST 2561/CAT 11
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  • 北京 朝阳
  • 有限责任公司(自然人投资或控股)
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